polski   English  

Wydanie

Eksport metadanych

oai   rdf

Zapisz ten adres...

  • Dodaj do "Zakładek"

Opis wydania

DC and low-frequency noise analysis for buried SiGe channel metamorphic PMOSFETs with high Ge content, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

 

Zaproponuj słowa kluczowe, które Twoim zdaniem dobrze opisują to wydanie

Po zalogowaniu będziesz mógł zaproponować nowe słowa kluczowe dla tego wydania. Zaloguj się!