Biblioteka Cyfrowa dLibra - Durov, Sergiy, DC and low-frequency noise analysis for buried SiGe channel metamorphic PMOSFETs with high Ge content, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

obecnie czytających: 107
STRONA GŁÓWNA
KOLEKCJE
NOWE KONTO
LOGOWANIE
KONTAKT

Publikacja

» Wydania

Zapisz ten adres...

Dodaj do "Zakładek"

Opis publikacji

Durov, Sergiy, DC and low-frequency noise analysis for buried SiGe channel metamorphic PMOSFETs with high Ge content, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Trwa otwieranie jedynego wydania publikacji...