Biblioteka Cyfrowa
Opis wydania
On-wafer wideband characterization: a powerful tool for improving the IC technologies, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 2
-
-
Opis :
In the present paper, the interest of wideband characterization for the development of integrated technologies is highlighted through several advanced devices, such as 120 nm partially depleted (PD) silicon-on-insulator (SOI) MOSFETs, 120 nm dynamic threshold (DT) voltage – SOI MOSFETs, 50 nm FinFETs as well as long-channel planar double gate (DG) MOSFETs.
Zaproponuj słowa kluczowe, które Twoim zdaniem dobrze opisują to wydanie
Po zalogowaniu będziesz mógł zaproponować nowe słowa kluczowe dla tego wydania. Zaloguj się!