Biblioteka Cyfrowa dLibra - Thomas, Stephen M.; Prest, Martin J.; Fulgoni, Dominic J. F.; Bacon, Adam R.; Grasby, Tim J. ; Leadley, David R; Parker, Evan H. C.; Whall, Terence E., Low frequency noise in Si and Si/SiGe/Si PMOSFETs, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 2

obecnie czytających: 1014
STRONA GŁÓWNA
KOLEKCJE
NOWE KONTO
LOGOWANIE
KONTAKT

Publikacja

» Wydania

Zapisz ten adres...

Dodaj do "Zakładek"

Opis publikacji

Thomas, Stephen M.; Prest, Martin J.; Fulgoni, Dominic J. F.; Bacon, Adam R.; Grasby, Tim J. ; Leadley, David R; Parker, Evan H. C.; Whall, Terence E., Low frequency noise in Si and Si/SiGe/Si PMOSFETs, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 2

Trwa otwieranie jedynego wydania publikacji...