Biblioteka Cyfrowa dLibra - Zaunert, Florian; Endres, Ralf; Stefanov, Yordan; Schwalke, Udo, Evaluation of MOSFETs with crystalline high-k gate-dielectrics: device simulation and experimental data, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 2

obecnie czytających: 89
STRONA GŁÓWNA
KOLEKCJE
NOWE KONTO
LOGOWANIE
KONTAKT

Publikacja

» Wydania

Zapisz ten adres...

Dodaj do "Zakładek"

Opis publikacji

Zaunert, Florian; Endres, Ralf; Stefanov, Yordan; Schwalke, Udo, Evaluation of MOSFETs with crystalline high-k gate-dielectrics: device simulation and experimental data, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 2

Trwa otwieranie jedynego wydania publikacji...