polski   English  

Biblioteka

Wyniki wyszukiwania

Wyniki wyszukiwania: obiekty podobne

odnośnik do wyników wyszukiwania
Zapytanie:
Podobne do wydania Szmidt, Jan; Werbowy, Aleksander; Dusiński, Emil; Zdunek, Krzysztof, Reliability of MIS transistors with plasma deposited Al2O3 gate dielectric film, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2001, nr 1
Wyniki:
  • - Znaleziono obiektów:   100
    • Wydania: 2
    • Publikacje: 98
Widok:
Prosty | Rozbudowany
1.  PDF Reliability of MIS transistors with plasma deposited Al2O3 gate dielectric film, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2001, nr 1 - Dusiński, Emil [■■■■■]
Trafność: 100%
Słowa kluczowe: Al2O3 films , MIS transistor , RPP method , reliability
Znajdź obiekty podobne do tego
2.  PDF 2001, nr 3, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 100%
Znajdź obiekty podobne do tego
3.  PDF 2001, nr 4, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 100%
Znajdź obiekty podobne do tego
4.  PDF 2001, nr 2, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 100%
Znajdź obiekty podobne do tego
5.  PDF 2001, nr 1, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 100%
Znajdź obiekty podobne do tego
6.  PDF Telekomunikacja i Techniki Informacyjne, 2001, nr 3-4 - artykuły [■■■■■]
Trafność: 65%
Znajdź obiekty podobne do tego
7.  PDF Telekomunikacja i Techniki Informacyjne, 2001, nr 1 - artykuły [■■■■■]
Trafność: 52%
Znajdź obiekty podobne do tego
8.  PDF Telekomunikacja i Techniki Informacyjne, 2001, nr 2 - artykuły [■■■■■]
Trafność: 52%
Znajdź obiekty podobne do tego
9.  PDF 2014, nr 2, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 50%
Znajdź obiekty podobne do tego
10.  PDF 2014, nr 1, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 50%
Znajdź obiekty podobne do tego
<<< Poprzednie  / 10 Następne >>>
Serwis tworzony przez : Instytut Łączności więcej...
Ten serwis działa dzięki oprogramowaniu dLibra 4.0   więcej...