polski   English  

Biblioteka

Wyniki wyszukiwania

Wyniki wyszukiwania: obiekty podobne

Zapytanie:
Podobne do wydania Mattausch, Hans Jurgen; Yumisaki, Akihiro; Sadachika, Norio; Kaya, Akihiro; Johguchi, Koh; Koide, Tetsushi; Miura-Mattausch, Mitiko, Variation Analysis of CMOS Technologies Using Surface-Potential MOSFET Model, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2009, nr 4
Wyniki:
  • - Znaleziono obiektów:   98
    • Wydania: 1
    • Publikacje: 97
Widok:
Prosty | Rozbudowany
1.  PDF Variation Analysis of CMOS Technologies Using Surface-Potential MOSFET Model, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2009, nr 4 - Johguchi, Koh []
Trafność: 100%
Słowa kluczowe: compact model , fabrication inaccuracy , field-effect transistor , macroscopic , microscopic , potential at channel surface , silicon , within wafer
Znajdź obiekty podobne do tego
2.  PDF 2009, nr 3, JTIT - artykuły []
Trafność: 61%
Znajdź obiekty podobne do tego
3.  PDF 2009, nr 2, JTIT - artykuły []
Trafność: 61%
Znajdź obiekty podobne do tego
4.  PDF 2009, nr 1, JTIT - artykuły []
Trafność: 61%
Znajdź obiekty podobne do tego
5.  PDF 2009, nr 4, JTIT - artykuły []
Trafność: 61%
Znajdź obiekty podobne do tego
6.  PDF 2014, nr 1, JTIT - artykuły []
Trafność: 30%
Znajdź obiekty podobne do tego
7.  PDF 2014, nr 2, JTIT - artykuły []
Trafność: 30%
Znajdź obiekty podobne do tego
8.  PDF 2000, nr 3-4, JTIT - artykuły []
Trafność: 28%
Znajdź obiekty podobne do tego
9.  PDF Telekomunikacja i Techniki Informacyjne, 2009, nr 3-4 - artykuły []
Trafność: 27%
Znajdź obiekty podobne do tego
10.  PDF Telekomunikacja i Techniki Informacyjne, 2009, nr 1-2 - artykuły []
Trafność: 27%
Znajdź obiekty podobne do tego
<<< Poprzednie  / 10 Następne >>>