polski   English  

Biblioteka

Wyniki wyszukiwania

Wyniki wyszukiwania: obiekty podobne

odnośnik do wyników wyszukiwania
Zapytanie:
Podobne do wydania Rzodkiewicz, Witold; Kudła, Andrzej; Sawicki, Zbigniew; Przewłocki, Henryk M., Effects of stress annealing on the electrical and the optical properties of MOS devices, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1
Wyniki:
  • - Znaleziono obiektów:   101
    • Wydania: 2
    • Publikacje: 99
Widok:
Prosty | Rozbudowany
1.  PDF Effects of stress annealing on the electrical and the optical properties of MOS devices, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1 - Kudła, Andrzej [■■■■■]
Trafność: 100%
Słowa kluczowe: MOS , Si-SiO2 system , electrical parameters , refractive index , stress
Znajdź obiekty podobne do tego
2.  PDF 2005, nr 2, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 36%
Znajdź obiekty podobne do tego
3.  PDF 2005, nr 3, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 36%
Znajdź obiekty podobne do tego
4.  PDF 2005, nr 1, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 36%
Znajdź obiekty podobne do tego
5.  PDF 2005, nr 4, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 36%
Znajdź obiekty podobne do tego
6.  PDF 2014, nr 2, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 29%
Znajdź obiekty podobne do tego
7.  PDF 2014, nr 1, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 29%
Znajdź obiekty podobne do tego
8.  PDF Telekomunikacja i Techniki Informacyjne, 2005, nr 3-4 - artykuły [■■■■■]
Trafność: 26%
Znajdź obiekty podobne do tego
9.  PDF Telekomunikacja i Techniki Informacyjne, 2005, nr 1-2 - artykuły [■■■■■]
Trafność: 26%
Znajdź obiekty podobne do tego
10.  PDF 2000, nr 3-4, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 24%
Znajdź obiekty podobne do tego
<<< Poprzednie  / 11 Następne >>>
Serwis tworzony przez : Instytut Łączności więcej...
Ten serwis działa dzięki oprogramowaniu dLibra 4.0   więcej...