polski   English  

Biblioteka

Wyniki wyszukiwania

Wyniki wyszukiwania: obiekty podobne

odnośnik do wyników wyszukiwania
Zapytanie:
Podobne do wydania Rzodkiewicz, Witold; Panas, Andrzej, Ellipsometric spectroscopy studies of compaction and decompaction of Si-SiO2 systems, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 3
Wyniki:
  • - Znaleziono obiektów:   100
    • Wydania: 3
    • Publikacje: 97
Widok:
Prosty | Rozbudowany
1.  PDF Ellipsometric spectroscopy studies of compaction and decompaction of Si-SiO2 systems, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 3 - Panas, Andrzej [■■■■■]
Trafność: 100%
Słowa kluczowe: Si-SiO2 system , density , refractive index , spectroscopic ellipsometry
Znajdź obiekty podobne do tego
2.  PDF 2007, nr 4, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 60%
Znajdź obiekty podobne do tego
3.  PDF 2007, nr 3, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 60%
Znajdź obiekty podobne do tego
4.  PDF 2007, nr 2, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 60%
Znajdź obiekty podobne do tego
5.  PDF 2007, nr 1, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 53%
Znajdź obiekty podobne do tego
6.  PDF Telekomunikacja i Techniki Informacyjne, 2007, nr 3-4 - artykuły [■■■■■]
Trafność: 37%
Znajdź obiekty podobne do tego
7.  PDF Telekomunikacja i Techniki Informacyjne, 2007, nr 1-2 - artykuły [■■■■■]
Trafność: 37%
Znajdź obiekty podobne do tego
8.  PDF 2014, nr 2, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 36%
Znajdź obiekty podobne do tego
9.  PDF 2014, nr 1, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 36%
Znajdź obiekty podobne do tego
10.  PDF 2000, nr 3-4, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 30%
Znajdź obiekty podobne do tego
<<< Poprzednie  / 10 Następne >>>
Serwis tworzony przez : Instytut Łączności więcej...
Ten serwis działa dzięki oprogramowaniu dLibra 4.0   więcej...