polski   English  

Biblioteka

Wyniki wyszukiwania

Wyniki wyszukiwania: obiekty podobne

odnośnik do wyników wyszukiwania
Zapytanie:
Podobne do wydania Mroczyński, Robert; Beck, Romuald B.; Jakubowski, Andrzej; Ćwil, Michał; Konarski, Piotr; Hoffmann, Patrick; Schmeißer, Dieter, The influence of annealing (900◦C) of ultra-thin PECVD silicon oxynitride layers, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 3
Wyniki:
  • - Znaleziono obiektów:   102
    • Wydania: 6
    • Publikacje: 96
Widok:
Prosty | Rozbudowany
1.  PDF The influence of annealing (900◦C) of ultra-thin PECVD silicon oxynitride layers, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 3 - Beck, Romuald B. [■■■■■]
Trafność: 100%
Słowa kluczowe: CMOS , PECVD , silicon oxynitride , ultra-thin dielectrics
Znajdź obiekty podobne do tego
2.  PDF 2007, nr 3, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 70%
Znajdź obiekty podobne do tego
3.  PDF 2007, nr 2, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 70%
Znajdź obiekty podobne do tego
4.  PDF 2007, nr 4, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 70%
Znajdź obiekty podobne do tego
5.  PDF 2007, nr 1, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 62%
Znajdź obiekty podobne do tego
6.  PDF Telekomunikacja i Techniki Informacyjne, 2007, nr 3-4 - artykuły [■■■■■]
Trafność: 43%
Znajdź obiekty podobne do tego
7.  PDF Telekomunikacja i Techniki Informacyjne, 2007, nr 1-2 - artykuły [■■■■■]
Trafność: 43%
Znajdź obiekty podobne do tego
8.  PDF 2014, nr 2, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 42%
Znajdź obiekty podobne do tego
9.  PDF 2014, nr 1, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 42%
Znajdź obiekty podobne do tego
10.  PDF 2000, nr 3-4, JTIT - artykuły [■■■■■]
Trafność: 35%
Znajdź obiekty podobne do tego
<<< Poprzednie  / 11 Następne >>>
Serwis tworzony przez : Instytut Łączności więcej...
Ten serwis działa dzięki oprogramowaniu dLibra 4.0   więcej...