Biblioteka Cyfrowa dLibra - Biblioteka Cyfrowa Instytutu Łączności

Wyniki wyszukiwania: obiekty podobne

Zapytanie:

Podobne do wydania Östling, Mikael; Malm, Bengt Gunnar; Haartman von, Martin; Hallstedt, Julius; Zhang, Zhen; Hellström, Per-Erik; Zhang, Shili, Challenges for 10 nm MOSFET process integration, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 2

Wyniki:

Widok:

Prosty | Rozbudowany

Challenges for 10 nm MOSFET process integration, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 2 - Haartman von, Martin

[■■■■■]

Trafność:	100%
Słowa kluczowe:	hafnium oxide , high-k dielectrics , low-frequency noise , metal gate , mobility , nano-wire , silicon germanium , silicon-on-insulator (SOI) , sstrained silicon
Znajdź obiekty podobne do tego

2007, nr 4, JTIT - artykuły

[■■■■■]

Trafność:	96%
Znajdź obiekty podobne do tego

2007, nr 2, JTIT - artykuły

[■■■■■]

Trafność:	96%
Znajdź obiekty podobne do tego

2007, nr 3, JTIT - artykuły

[■■■■■]

Trafność:	96%
Znajdź obiekty podobne do tego

2007, nr 1, JTIT - artykuły

[■■■■■]

Trafność:	84%
Znajdź obiekty podobne do tego

Telekomunikacja i Techniki Informacyjne, 2007, nr 3-4 - artykuły

[■■■■■]

Trafność:	59%
Znajdź obiekty podobne do tego

Telekomunikacja i Techniki Informacyjne, 2007, nr 1-2 - artykuły

[■■■■■]

Trafność:	59%
Znajdź obiekty podobne do tego

2014, nr 2, JTIT - artykuły

[■■■■■]

Trafność:	58%
Znajdź obiekty podobne do tego

2014, nr 1, JTIT - artykuły

[■■■■■]

Trafność:	58%
Znajdź obiekty podobne do tego

10.

2000, nr 3-4, JTIT - artykuły

[■■■■■]

Trafność:	47%
Znajdź obiekty podobne do tego

<<< Poprzednie / 11 Następne >>>