polski   English  

Publikacja

Zapisz ten adres...

  • Dodaj do "Zakładek"

Opis publikacji

Walczak, Jakub; Majkusiak, Bogdan, Electron mobility and drain current in strained-Si MOSFET, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 3

Trwa otwieranie jedynego wydania publikacji...