Opis publikacji
Östling, Mikael; Malm, Bengt Gunnar; Haartman von, Martin; Hallstedt, Julius; Zhang, Zhen; Hellström, Per-Erik; Zhang, Shili, Challenges for 10 nm MOSFET process integration, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 2
Trwa otwieranie jedynego wydania publikacji...