polski   English  

Publikacja

Zapisz ten adres...

  • Dodaj do "Zakładek"

Opis publikacji

Östling, Mikael; Malm, Bengt Gunnar; Haartman von, Martin; Hallstedt, Julius; Zhang, Zhen; Hellström, Per-Erik; Zhang, Shili, Challenges for 10 nm MOSFET process integration, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 2

Trwa otwieranie jedynego wydania publikacji...