Biblioteka Cyfrowa dLibra - Engström, Olof; Raeissi, Bahman; Piscator, Johan; Mitrovic, Ivona Z.; Cherkaoui, Karim, Charging Phenomena at the Interface Between High-k Dielectrics and SiOx Interlayers, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2010, nr 1,

obecnie czytających: 772
STRONA GŁÓWNA
KOLEKCJE
NOWE KONTO
LOGOWANIE
KONTAKT

Publikacja

» Wydania

Zapisz ten adres...

Dodaj do "Zakładek"

Opis publikacji

Engström, Olof; Raeissi, Bahman; Piscator, Johan; Mitrovic, Ivona Z.; Cherkaoui, Karim, Charging Phenomena at the Interface Between High-k Dielectrics and SiOx Interlayers, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2010, nr 1,

Trwa otwieranie jedynego wydania publikacji...