Biblioteka Cyfrowa dLibra - Nazarov, Alexei N.; Kilchytska, V. I.; Vovk, Ja. N.; Colinge, J. P., High-temperature instability processes in SOI structures and MOSFETs, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2001, nr 1

obecnie czytających: 123
STRONA GŁÓWNA
KOLEKCJE
NOWE KONTO
LOGOWANIE
KONTAKT

Publikacja

» Wydania

Zapisz ten adres...

Dodaj do "Zakładek"

Opis publikacji

Nazarov, Alexei N.; Kilchytska, V. I.; Vovk, Ja. N.; Colinge, J. P., High-temperature instability processes in SOI structures and MOSFETs, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2001, nr 1

Trwa otwieranie jedynego wydania publikacji...