Biblioteka Cyfrowa dLibra - Nazarov, Alexei N.; Houk, Yuri; Kilchytska, Valeriya, High-field current transport and charge trapping in buried oxide of SOI materials under high-field electron injection, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2004, nr 1

obecnie czytających: 1039
STRONA GŁÓWNA
KOLEKCJE
NOWE KONTO
LOGOWANIE
KONTAKT

Publikacja

» Wydania

Zapisz ten adres...

Dodaj do "Zakładek"

Opis publikacji

Nazarov, Alexei N.; Houk, Yuri; Kilchytska, Valeriya, High-field current transport and charge trapping in buried oxide of SOI materials under high-field electron injection, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2004, nr 1

Trwa otwieranie jedynego wydania publikacji...