Biblioteka Cyfrowa dLibra - Mattausch, Hans Jurgen; Yumisaki, Akihiro; Sadachika, Norio; Kaya, Akihiro; Johguchi, Koh; Koide, Tetsushi; Miura-Mattausch, Mitiko, Variation Analysis of CMOS Technologies Using Surface-Potential MOSFET Model, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2009, nr 4

obecnie czytających: 657
STRONA GŁÓWNA
KOLEKCJE
NOWE KONTO
LOGOWANIE
KONTAKT

Publikacja

» Wydania

Zapisz ten adres...

Dodaj do "Zakładek"

Opis publikacji

Mattausch, Hans Jurgen; Yumisaki, Akihiro; Sadachika, Norio; Kaya, Akihiro; Johguchi, Koh; Koide, Tetsushi; Miura-Mattausch, Mitiko, Variation Analysis of CMOS Technologies Using Surface-Potential MOSFET Model, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2009, nr 4

Trwa otwieranie jedynego wydania publikacji...