Biblioteka Cyfrowa dLibra - Chin, Lim Phei, Detection of Monocrystalline Silicon Wafer Defects Using Deep Transfer Learning, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2022, nr 1

obecnie czytających: 453
STRONA GŁÓWNA
KOLEKCJE
NOWE KONTO
LOGOWANIE
KONTAKT

Publikacja

» Wydania

Zapisz ten adres...

Dodaj do "Zakładek"

Opis publikacji

Chin, Lim Phei, Detection of Monocrystalline Silicon Wafer Defects Using Deep Transfer Learning, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2022, nr 1

Trwa otwieranie jedynego wydania publikacji...