Opis wydania
Zasady projektowania urządzeń mikroprocesorowych z rezydentnymi testami, na przykładzie przystawki PPWA do redukcji danych pomiarowych. Referaty Problemowe, 1985, zeszyt 67
-
-
Opis : W referacie przedstawiono, na konkretnym przykładzie, zasady projektowania systemów mikroprocesorowych z rezydentnymi testami. Testy takie umożliwiają proste uruchomianie oraz serwis systemów mikroprocesorowych, zwłaszcza małych, ze stałym programem zawartym w pamięci ROM. Testy można podzielić na trzy grupy funkcjonalne: test wstępny, wykonujący się zawsze po włączeniu zasilania, testy „objawowe” i testy „sygnaturowe”.
Zaproponuj słowa kluczowe, które Twoim zdaniem dobrze opisują to wydanie
Po zalogowaniu będziesz mógł zaproponować nowe słowa kluczowe dla tego wydania. Zaloguj się!